單項選擇題超聲波探測粗晶材料時，如果頻率相同，穿透力強的波型是（）
A.縱波
B.橫波
C.蘭姆波
D.表面波
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項選擇題晶片厚度和探頭頻率是相關(guān)的，晶片越厚則（）
A.頻率越低
B.頻率越高
C.無明顯影響
D.頻率變化不定
2.單項選擇題當超聲波的波長與金屬晶粒相比，數(shù)值相近，或小于晶粒時（）
A.衰減顯著
B.出現(xiàn)雜亂回波
C.能檢出微小缺陷
D.穿透能力強
3.單項選擇題在同一介質(zhì)中，超聲波反射角（）
A.等于入射角
B.與使用的耦合劑有關(guān)
C.與使用頻率有關(guān)
D.等于折射角
4.單項選擇題超聲波從一種介質(zhì)進入另一種不同介質(zhì)而改其傳播方向的現(xiàn)象叫做（）
A.發(fā)散
B.折射
C.反射
D.擴散
5.多項選擇題超聲波檢查焊縫時，探頭前后移的范圍為（）
A.探頭應(yīng)在焊縫兩側(cè)至少為一個跨距范圍內(nèi)移動。
B.探頭緊靠焊縫兩側(cè)并沿著焊縫移動
C.探頭放在焊縫上沿著焊縫移動
D.作為一般的經(jīng)驗，探測面的寬度（單側(cè)）可近似地取焊縫厚度的3倍
最新試題
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項選擇題
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
題型：單項選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
題型：單項選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
題型：單項選擇題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題