靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。

儀器水平線性影響（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。