A.小于第一臨界角
B.大于第二臨界角
C.大于第一臨界角并小于第二臨界角
D.上述情況都能滿(mǎn)足
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A.水平定位法
B.垂直定位法
C.聲程定位法
D.以上三種都是
圖中，探頭D在進(jìn)行（）
A.測(cè)定聲速
B.靈敏度測(cè)定
C.分辨力測(cè)定
D.距離校驗(yàn)
圖中，探頭C在進(jìn)行（）
A.距離測(cè)定
B.折射角測(cè)定
C.分辨力測(cè)定
D.靈敏度校驗(yàn)
圖中，探頭B在進(jìn)行（）
A.分辨力測(cè)定
B.聲速測(cè)定
C.距離測(cè)定
D.靈敏度測(cè)定
圖中探頭A在進(jìn)行（）
A.驗(yàn)證試塊的圓度
B.靈敏度調(diào)節(jié)
C.分辨力測(cè)定
D.探頭入射點(diǎn)測(cè)定
最新試題
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
（）是影響缺陷定量的因素。
儀器水平線(xiàn)性影響（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。