A.折射角
B.入射角
C.反射角
D.擴(kuò)散角
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A.角度調(diào)整
B.散射
C.折射
D.擴(kuò)散
A.小于第一臨界角
B.大于第二臨界角
C.大于第一臨界角并小于第二臨界角
D.上述情況都能滿足
A.水平定位法
B.垂直定位法
C.聲程定位法
D.以上三種都是
圖中，探頭D在進(jìn)行（）
A.測(cè)定聲速
B.靈敏度測(cè)定
C.分辨力測(cè)定
D.距離校驗(yàn)
圖中，探頭C在進(jìn)行（）
A.距離測(cè)定
B.折射角測(cè)定
C.分辨力測(cè)定
D.靈敏度校驗(yàn)
最新試題
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。