測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。

調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。