單探頭法容易檢出（）。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

儀器水平線性影響（）。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。