單項選擇題頻率大于5兆赫的探頭最適宜于()

A、鋁錠的縱波接觸法探傷
B、鋼管的橫波接觸法探傷
C、金屬板材的接觸法探傷
D、水浸法探測小口徑薄壁管


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項選擇題用25兆赫硫酸鋰晶片制的探頭最適宜采用()探傷

A、縱波接觸法
B、水浸探傷法
C、橫波接觸法
D、表面波接觸法

2.單項選擇題利用三個平底孔繪制實測“距離-波幅”曲線時,有時所得到距探測面最近的孔的反射回波幅度較其他兩孔的低,這是由于()所致

A、三平底孔試塊的探測面表面狀態(tài)不一致
B、近場的影響
C、孔的幾何形狀不正確
D、以上都是

3.單項選擇題水浸探傷法的優(yōu)點是()

A、能提高探測速度
B、易于控制聲束入射方向
C、易實現(xiàn)自動探傷
D、以上都是

4.單項選擇題一臺新出廠的的超聲波探傷儀,其水平線性誤差應(yīng)為()

A、>6分貝
B、>2%
C、<6分貝
D、≤2%

5.單項選擇題一臺經(jīng)校準(zhǔn)好的超聲波探傷儀,其垂直線性誤差應(yīng)為()

A、>8%
B、≤8%
C、20分貝
D、6分貝

最新試題

X光檢驗組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認(rèn),檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。

題型:判斷題

對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:單項選擇題

X射線檢測人員健康體檢為每()年一次。

題型:單項選擇題

X射線檢驗人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認(rèn)可后送X光檢測。

題型:判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()

題型:單項選擇題