單項(xiàng)選擇題實(shí)際使膠片鹵銀顆粒感光的因素是()

A.X或γ光量子
B.a粒子
C.電子
D.中子


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1.單項(xiàng)選擇題各種膠片成像的粒度()

A.隨千伏值提高而增大
B.隨千伏值提高而減小
C.與千伏值無(wú)關(guān)
D.變化服從朗伯定律

3.單項(xiàng)選擇題放射性同位素的輻射強(qiáng)度與時(shí)間的關(guān)系是()

A.隨時(shí)間增大
B.與時(shí)間無(wú)關(guān)
C.隨時(shí)間減小
D.三者都不對(duì)

4.單項(xiàng)選擇題決定X射線機(jī)工作時(shí)間長(zhǎng)短的主要因素是()

A.工作電太KV的大?。?br /> B.工作電流mA的大??;
C.工件厚度的大??;
D.陽(yáng)極冷卻速度的大小。

5.單項(xiàng)選擇題X射線管對(duì)真空度要求較高,其原因是()

A.防止電極材料氧化;
B.使阻極與陽(yáng)極之間絕緣
C.使電子束不電離氣體而容易通過(guò);
D.以上三者均是。

最新試題

一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過(guò)一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無(wú)需X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)含有內(nèi)穿過(guò)式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題