單項選擇題A型掃描顯示中,從熒光上直接可獲得的信息是:()

A.缺陷的性質(zhì)和大小
B.缺陷的形狀和取向
C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時間
D.以上都是


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2.單項選擇題遠(yuǎn)場范圍的超聲波可視為()

A.平面波
B.柱面波
C.球面波
D.以上都不對

3.單項選擇題φ14㎜,2.5MHZ直探頭在鋼中近場區(qū)為:()

A.27㎜
B.21㎜
C.38㎜
D.以上都不對

4.單項選擇題直徑φ12㎜晶片5MHZ直探頭在鋼中的指向角是:()

A.5.6°
B.3.5°
C.6.8°
D.24.6°

5.單項選擇題由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于()

A.擴(kuò)散衰減
B.散射衰減
C.吸收衰減
D.以上都是

最新試題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:單項選擇題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。

題型:單項選擇題

按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測。

題型:判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

X光檢驗組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認(rèn),檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。

題型:判斷題

X射線檢驗人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。

題型:判斷題