問答題橫波探傷焊縫時(shí),選擇探頭K值應(yīng)依據(jù)哪些原因?
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1.問答題焊縫超聲波探傷中,為什么常采用橫波探傷?
2.問答題分析缺陷性質(zhì)的基本原則是什么?
3.問答題什么是試塊?試塊的主要作用是什么?
4.單項(xiàng)選擇題在對接焊縫超探時(shí),探頭平行于焊縫方向的掃查目的是探測:()
A.橫向裂縫
B.夾渣
C.縱向缺陷
D.以上都對
5.單項(xiàng)選擇題焊縫斜角探傷時(shí),熒光屏上的反射波來自:()
A.焊道
B.缺陷
C.結(jié)構(gòu)
D.以上全部
最新試題
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
題型:判斷題
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。
題型:判斷題
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
題型:判斷題
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
題型:判斷題
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。
題型:判斷題
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
題型:判斷題
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
題型:判斷題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型:判斷題
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
題型:判斷題