JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。

工件的退磁效果一般可用剩磁檢查儀或磁場強度計測定。

在不退磁的情況下，周向磁化產生的剩磁比縱向磁化產生的剩磁有更大的危害性。

在工件內部的剩磁，周向磁化要比縱向磁化大的多。

磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數量和產生部位均應記錄并圖示。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：檢測后加熱至600℃以上進行熱處理的工件，一般可不進行退磁。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：當辯認細小缺陷磁痕時應用2～10倍放大鏡進行觀察。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：大型工件可使用交流電磁軛進行局部退磁或采用纏繞電纜線圈分段退磁。

標準試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。

一般說來，進行了周向磁化工件的退磁，應先進行一次縱向磁化。