問(wèn)答題例舉并解釋硅中固態(tài)雜質(zhì)擴(kuò)散的三個(gè)步驟。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.問(wèn)答題什么是結(jié)深?
2.問(wèn)答題敘述氮化硅的濕法化學(xué)去除工藝。
4.問(wèn)答題定義刻蝕速率并描述它的計(jì)算公式。為什么希望有高的刻蝕速率?
5.問(wèn)答題例舉出兩種光刻膠顯影方法。例舉出7種光刻膠顯影參數(shù)。
最新試題
MOS管的閾值電壓與絕緣柵層的雜質(zhì)濃度無(wú)關(guān)。
題型:判斷題
MOS管閾值電壓的單位是eV。
題型:判斷題
晶體管正常使用過(guò)程中,處于正偏的PN結(jié)是()結(jié),處于反偏的PN結(jié)是()結(jié)。
題型:填空題
半導(dǎo)體的主要特征有()()()和()。
題型:填空題
P溝增強(qiáng)型MOS管存在著一個(gè)柵極截止電壓。
題型:判斷題
1947年,()等人制造了第一個(gè)晶體管。
題型:填空題
MOS的輸出特性曲線中,給定的漏源電壓下漏源電流隨著柵極電壓的增大而增加。
題型:判斷題
MOS管的伏安特性曲線含義是漏源電壓與漏源電流之間的關(guān)系曲線。
題型:判斷題
理想的MOS管,柵極加上偏壓之后,溝道表面將產(chǎn)生一定厚度的耗盡層。
題型:判斷題
當(dāng)p溝耗盡型MOS管處于飽和工作區(qū)時(shí),漏極將失去對(duì)漏源電流的控制能力。
題型:判斷題