單項選擇題離子注入過程是一個非平衡過程,高能離子進(jìn)入靶后不斷與原子核及其核外電子碰撞,逐步損失能量,最后停下來。停下來的位置是隨機(jī)的,大部分不在晶格上,因而沒有()。
A. 電活性
B. 晶格損傷
C. 橫向效應(yīng)
D. 溝道效應(yīng)
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1.單項選擇題雜質(zhì)在硅晶體中的擴(kuò)散機(jī)制主要有兩種,分別是間隙式擴(kuò)散機(jī)制和替代式擴(kuò)散機(jī)制。雜質(zhì)只有在成為硅晶格結(jié)構(gòu)的一部分,即(),才有助于形成半導(dǎo)體硅。
A. 激活雜質(zhì)后
B. 一種物質(zhì)在另一種物質(zhì)中的運動
C. 預(yù)淀積
D. 高溫多步退火
2.單項選擇題刻蝕是用化學(xué)方法或物理方法有選擇地從硅片表面去除不需要材料的工藝過程,其基本目標(biāo)是()。
A. 有選擇地形成被刻蝕圖形的側(cè)壁形狀
B. 在涂膠的硅片上正確地復(fù)制掩膜圖形
C. 變成刻蝕介質(zhì)以形成一個凹槽
D. 在大于3微米的情況下,混合發(fā)生化學(xué)作用與物理作用
3.單項選擇題浸入式光刻技術(shù)可以使193nm光刻工藝的最小線寬減小到45nm以下。它通過采用折射率高的液體代替透鏡組件間的空氣,達(dá)到()的目的。
A.增大光源波長;
B.減小光源波長;
C.減小光學(xué)系統(tǒng)數(shù)值孔徑;
D.增大光學(xué)系統(tǒng)數(shù)值孔徑。
4.單項選擇題如果淀積的膜在臺階上過度地變薄,就容易導(dǎo)致高的膜應(yīng)力、電短路或者在器件中產(chǎn)生不希望的()。
A. 誘生電荷
B. 鳥嘴效應(yīng)
C. 陷阱電荷
D. 可移動電荷
5.多項選擇題采用二氧化硅薄膜作為柵極氧化層,是利用其具有的()
A.高電阻率;
B.高化學(xué)穩(wěn)定性;
C.低介電常數(shù);
D.高介電強度。
最新試題
下面哪道工序主要是針對晶圓切割之后在顯微鏡下進(jìn)行晶圓r的外觀檢查,是否有出現(xiàn)廢品?()
題型:單項選擇題
下面哪些元素屬于半徑較小的雜質(zhì)原子?()
題型:多項選擇題
消除鳥嘴效應(yīng)的方法有()。
題型:多項選擇題
下面哪個選項不是集成電路工藝用化學(xué)氣體質(zhì)量的指標(biāo)?()
題型:單項選擇題
光刻工藝的設(shè)備核心是()。
題型:單項選擇題
光刻工藝的特點包括()。
題型:多項選擇題
刻蝕過程中聚合物形成的來源有()。
題型:多項選擇題
碳納米管場效應(yīng)晶體管是未來晶體管發(fā)展趨勢之一。
題型:判斷題
常壓的硅外延方法有()。
題型:多項選擇題
刻蝕工藝可以和以下哪個工藝結(jié)合來實現(xiàn)圖形的轉(zhuǎn)移?()
題型:單項選擇題