A.1―2個(gè)
B.數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)
C.與工作頻率有同
D.以上都不對(duì)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.分辨力范圍
D.選擇性范圍
A.缺陷的性質(zhì)和大小
B.缺陷的形狀和取向
C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間
D.以上都是
A、聲束細(xì)，每次掃查探測(cè)區(qū)域小，頻率低
B、每只探頭僅適宜探測(cè)某一深度范圍缺陷，通用性差
C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點(diǎn)
D、以上都是
A、靈敏度高
B、橫向分辨率高
C、縱向分辨率高
D、探測(cè)粗晶材料時(shí)信噪比高
A、Ф0.6mm
B、Ф1mm
C、Ф2mm
D、Ф0.3mm
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
儀器水平線性影響（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。