A.影響缺陷的精確定位 B.影響AVG曲線或當量定量法的使用 C.導致小缺陷漏檢 D.以上都不對
A.橫向分辨力降低 B.聲束擴散角增大 C.近場長度增大 D.指向性變鈍
A.應減小阻尼塊 B.應使用大直徑晶片 C.應使壓電晶片在它的共振基頻上激勵 D.換能器頻帶寬度應盡可能大