單項(xiàng)選擇題表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（）
A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
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1.單項(xiàng)選擇題如果在耦合介質(zhì)中的波長為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（）
A.λ/4的奇數(shù)倍
B.λ/2的整數(shù)倍
C.小于λ/4且很薄
D.以上B和C
2.單項(xiàng)選擇題超聲檢驗(yàn)中，選用鏡片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（）
A.曲面探傷時(shí)可減少耦合損失
B.可減少材質(zhì)衰減損失
C.輻射聲能大且能量集中
D.以上全部
3.單項(xiàng)選擇題超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（）
A.較低頻探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都對
4.單項(xiàng)選擇題采用什么超聲探傷技術(shù)不能測出缺陷深度？（）
A.直探頭探傷法
B.脈沖反射法
C.斜探頭探傷法
D.穿透法
5.單項(xiàng)選擇題CSK-ⅡA試塊上的Φ1×6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場，其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（）相同
A.長橫孔
B.平底孔
C.球孔
D.以上B和C
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測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測對缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題