A.F/B相同，缺陷當量相同
B.該法不能給出缺陷的當量尺寸
C.適于對尺寸較小的缺陷定量
D.適于對密集性缺陷的定量
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.缺陷實際徑向深度總是小于顯示值
B.顯示的水平距離總是大于實際弧長
C.顯示值與實際值之差，隨顯示值的增加而減小
D.以上都正確
A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
A.λ/4的奇數(shù)倍
B.λ/2的整數(shù)倍
C.小于λ/4且很薄
D.以上B和C
A.曲面探傷時可減少耦合損失
B.可減少材質(zhì)衰減損失
C.輻射聲能大且能量集中
D.以上全部
A.較低頻探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護膜探頭
D.以上都對
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。