A.來自工作表面的雜波
B.來自探頭的噪聲
C.工作上近表面缺陷的回波
D.耦合劑噪聲
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A.精確對缺陷定位
B.精確測定缺陷形狀
C.測定缺陷的動態(tài)波形
D.以上方法須同時使用
A.缺陷的長度
B.缺陷的性質(zhì)
C.缺陷的位置
D.缺陷的高度
A.小于實(shí)際尺寸
B.接近聲束寬度
C.大于實(shí)際尺寸
D.等于晶片尺寸
A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同
B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸
C.適于對尺寸較小的缺陷定量
D.適于對密集性缺陷的定量
A.缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值
B.顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長
C.顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小
D.以上都正確
最新試題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進(jìn)行傳輸修正。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
單探頭法容易檢出（）。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。