您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.直探頭在翼板上掃查探測(cè)
B.斜探頭在翼板外側(cè)或內(nèi)側(cè)掃查探測(cè)
C.直探頭在腹板上掃查探測(cè)
D.斜探頭在腹板上掃查探測(cè)
A.宜采用較高頻率,一般為5MHZ
B.宜采用大角度斜探頭,其中β=70°探頭較好
C.宜采用粘度大的耦合劑,如黃油
D.一般以橫波斜探頭從主管探測(cè)為主,支管探測(cè)為輔
A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.反射訊號(hào)很小而導(dǎo)致漏檢
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
單探頭法容易檢出()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。