A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號、形成平面投影圖
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A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號、形成平面投影圖
A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號、形成平面投影圖
A.單純的正弦波
B.有多種頻率成分的正弦波疊加而成的機(jī)械波
C.單純的余弦波
D.以上都可能
A.波幅將增加或降低為原波高的1倍；
B.波幅將增加或降低為原波高的2倍；
C.波幅將增加或降低為原波高的3倍；
D.波幅將增加或降低為原波高的4倍。
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
單探頭法容易檢出（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。