A.平面波
B.柱面波
C.球面波
D.瑞利波
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A.透射波介質(zhì)聲阻抗遠(yuǎn)大于入射波聲阻抗時(shí)，聲壓幾乎全反射
B.界面兩側(cè)聲阻抗近似相等時(shí)，聲壓幾乎全反射
C.對于鋼/水界面，聲壓透射率很高，聲壓發(fā)射率很低
D.無論界面兩側(cè)為何種介質(zhì)，聲波能量守恒
A.探頭的環(huán)向移動(dòng)距離
B.缺陷的埋藏深度
C.檢件的外徑
D.以上選項(xiàng)都是
A.減少衰減
B.保證檢測靈敏度
C.縮短聲程
D.避免近場區(qū)檢測
A.應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行
B.斜探頭測定項(xiàng)目有：入射點(diǎn)、K值、主聲束偏離、掃描量程和掃查靈敏度
C.直探頭測定項(xiàng)目有：脈沖寬度、靈敏度余量、分辨力、掃描量程和掃查靈敏度
D.以上選項(xiàng)都是
A.長橫孔與平底孔
B.長橫孔與短橫孔
C.大平底與實(shí)心圓柱體徑向
D.大平底與平底孔
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
儀器水平線性影響（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。