A.探頭的環(huán)向移動(dòng)距離
B.缺陷的埋藏深度
C.檢件的外徑
D.以上選項(xiàng)都是
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A.減少衰減
B.保證檢測(cè)靈敏度
C.縮短聲程
D.避免近場(chǎng)區(qū)檢測(cè)
A.應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行
B.斜探頭測(cè)定項(xiàng)目有：入射點(diǎn)、K值、主聲束偏離、掃描量程和掃查靈敏度
C.直探頭測(cè)定項(xiàng)目有：脈沖寬度、靈敏度余量、分辨力、掃描量程和掃查靈敏度
D.以上選項(xiàng)都是
A.長(zhǎng)橫孔與平底孔
B.長(zhǎng)橫孔與短橫孔
C.大平底與實(shí)心圓柱體徑向
D.大平底與平底孔
A.橫向分辨力降低
B.聲束擴(kuò)散角增大
C.近場(chǎng)長(zhǎng)度增大
D.指向性變差
A.用直探頭和斜探頭檢測(cè)軸類鍛件，可檢測(cè)到整個(gè)軸類鍛件全體積
B.檢測(cè)時(shí)，聲束入射方向盡可能與鍛件流線方向垂直
C.斜探頭檢測(cè)筒形鍛件的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的徑向缺陷
D.軸向檢測(cè)時(shí)應(yīng)考慮缺陷定位修正
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。