A.用直探頭和斜探頭檢測軸類鍛件,可檢測到整個軸類鍛件全體積
B.檢測時,聲束入射方向盡可能與鍛件流線方向垂直
C.斜探頭檢測筒形鍛件的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的徑向缺陷
D.軸向檢測時應(yīng)考慮缺陷定位修正
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A.頻率常數(shù)Nt越大,制作給定頻率探頭的晶片越薄
B.不同壓電晶體材料中聲速不一樣,因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不一樣
C.頻率常數(shù)Nt是壓電晶片的厚度與固有頻率的乘積
D.同種壓電材料,制作高頻探頭時,晶片厚度較小
A.降低
B.升高
C.不變
A.橫波反射率γss很低,縱波反射率γsL較高
B.橫波反射率γss為100%
C.縱波反射率γsL為100%
D.橫波反射率γss很高,縱波反射率γsL較低
A.在有機玻璃斜楔中產(chǎn)生
B.在晶片上直接產(chǎn)生
C.在有機玻璃耦合層界面上產(chǎn)生
D.在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生
A.有利于提高分辨力
B.有利于改善聲束指向性
C.有利于發(fā)現(xiàn)較小缺陷
D.以上都可以
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
當(dāng)縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
儀器水平線性影響()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。