A.橫波反射率γss很低,縱波反射率γsL較高
B.橫波反射率γss為100%
C.縱波反射率γsL為100%
D.橫波反射率γss很高,縱波反射率γsL較低
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A.在有機(jī)玻璃斜楔中產(chǎn)生
B.在晶片上直接產(chǎn)生
C.在有機(jī)玻璃耦合層界面上產(chǎn)生
D.在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生
A.有利于提高分辨力
B.有利于改善聲束指向性
C.有利于發(fā)現(xiàn)較小缺陷
D.以上都可以
A.以翼板處為檢測面的直探頭
B.以翼板外為檢測面的斜探頭
C.以翼板內(nèi)為檢測面的直探頭
D.以腹板為檢測面的斜探頭
A.超聲回波的幅度大小
B.缺陷的位置
C.被探材料的厚度
D.超聲傳播時間
A.工件表面粗糙,反射回波低
B.對同一探測面,耦合劑聲阻抗大,反射回波低
C.探頭表面為平面時,工件表面若為平面則耦合效果最好;凸曲面次之;凹曲面最差
D.當(dāng)耦合層厚度小于λ/4時,耦合層厚度越薄,反射回波越高
最新試題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。