A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
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A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時(shí)間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點(diǎn)或暗點(diǎn)顯示回波信號(hào)、形成平面投影圖
A.單純的正弦波
B.有多種頻率成分的正弦波疊加而成的機(jī)械波
C.單純的余弦波
D.以上都可能
A.波幅將增加或降低為原波高的1倍；
B.波幅將增加或降低為原波高的2倍；
C.波幅將增加或降低為原波高的3倍；
D.波幅將增加或降低為原波高的4倍。
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線(xiàn)長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。