A、增大電導(dǎo)率
B、對電導(dǎo)率無影響
C、減小電導(dǎo)率
D、可能增大也可能減小電導(dǎo)率,取決于合金和熱處理類型
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.磁通密度;
B.試驗頻率;
C.傳動裝置;
D.試驗線圈阻抗
A.磁通密度;
B.試驗頻率;
C.傳動裝置;
D.試驗線圈阻抗.
A.應(yīng)提高試驗頻率;
B.應(yīng)降低試驗頻率;
C.減小填充系數(shù);
D.不存在減小這種影響的實際方法.
A.濾波或微分;
B.相位鑒別;
C.積分;
D.以上都是.
A.不能檢出小缺陷;
B.檢驗速度慢;
C.固有的機械問題;
D.A和C;
E.B和C
最新試題
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
X光檢驗組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進行試壓。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
X射線檢驗人員負責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機構(gòu)處理。
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。