A.電效應(yīng)；
B.電導(dǎo)率效應(yīng)；
C.磁效應(yīng)；
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、增大電導(dǎo)率
B、對(duì)電導(dǎo)率無(wú)影響
C、減小電導(dǎo)率
D、可能增大也可能減小電導(dǎo)率，取決于合金和熱處理類型
A．磁通密度；
B.試驗(yàn)頻率；
C.傳動(dòng)裝置；
D.試驗(yàn)線圈阻抗
A.磁通密度；
B.試驗(yàn)頻率；
C.傳動(dòng)裝置；
D.試驗(yàn)線圈阻抗.
A.應(yīng)提高試驗(yàn)頻率；
B.應(yīng)降低試驗(yàn)頻率；
C.減小填充系數(shù)；
D.不存在減小這種影響的實(shí)際方法.
A.濾波或微分；
B.相位鑒別；
C.積分；
D.以上都是.
最新試題
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）
在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí)：Ⅰ級(jí)為初級(jí)，Ⅱ級(jí)為中級(jí)，Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有（）。
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù)，直至缺陷完全排除。
檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求，檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)，確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。
對(duì)含有內(nèi)穿過(guò)式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。