A.冷隔;
B.顯微疏松;
C.阻抗;
D.電抗.
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A.6mm;
B.13mm;
C.6mm的任意倍;
D.與線圈直徑無關(guān).
A.運(yùn)動(dòng)
B.靜止
C.接觸
D.遠(yuǎn)離
A.載波
B.電磁波
C.調(diào)制波
D.平面波
A.0~1m/min;
B.1~7.5m/min;
C.10~75m/min;
D.100~750m/min.
A.試樣尺寸和形狀應(yīng)與被檢零件相同;
B.試樣熱處理應(yīng)與被檢零件相同;
C.試樣表面光潔度應(yīng)與被檢零件相同;
D.如果材料是鋁的,則表面應(yīng)陽極化.
最新試題
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。
航天無損檢測人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。