A.不能用來分選直徑不同、化學(xué)成分相同的鋁棒;
B.一般用來測(cè)量鑄管的壁厚變化;
C.不使用陰極射線管顯示器;
D.對(duì)尺寸變化比電導(dǎo)率的變化靈敏.
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.正弦電壓;
B.方波電壓;
C.鋸齒波電壓
A.陰極射線管;
B.模擬量表;
C.圖表記錄儀;
D.數(shù)字伏特計(jì).
A.放大裂紋或其它缺陷信號(hào);
B.減少信噪比;
C.消除試樣電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率少量不規(guī)則變化的影響;
D.從磁導(dǎo)率變化中分離出電導(dǎo)率變化.
A.二次電磁場(chǎng)與一次電磁場(chǎng)同相;
B.二次電磁場(chǎng)與一次電磁場(chǎng)相位差90°;
C.兩個(gè)電磁場(chǎng)分量之間的相位角總是大于90°,因而使一次電磁場(chǎng)部分抵消;
D.二次電磁場(chǎng)與一次電磁場(chǎng)相位差180°,因此產(chǎn)生一個(gè)大的相位移
A.垂直信號(hào)是經(jīng)解調(diào)的,而水平信號(hào)不是;
B.垂直信號(hào)和水平信號(hào)頻率相同;
C.垂直信號(hào)和水平信號(hào)相位總是相同的;
D.以上都不是。
最新試題
航天無損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無需X射線檢測(cè)。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。