A.試樣的電導(dǎo)率；
B.發(fā)射信號(hào)的大??；
C.試樣的厚度；
D.試樣中存在缺陷.
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A.使用一個(gè)差動(dòng)式二次線圈；
B.在感應(yīng)的信號(hào)中加一個(gè)相位差180°的信號(hào)；
C.從感應(yīng)信號(hào)中減去一個(gè)同相信號(hào)；
D.以上任意一種.
A.使容抗等于發(fā)生器阻抗；
B.使容抗最?。?br />
C.使容抗等于感抗；
D.使容抗最大.
A.玻璃纖維；
B.奧氏體不銹鋼；
C.銅；
D.黃銅.
A.存儲(chǔ)型
B.取樣型
C.短余輝型
D.雙線型
A.不能用來(lái)分選直徑不同、化學(xué)成分相同的鋁棒；
B.一般用來(lái)測(cè)量鑄管的壁厚變化；
C.不使用陰極射線管顯示器；
D.對(duì)尺寸變化比電導(dǎo)率的變化靈敏.
最新試題
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每（）年一次。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù)，直至缺陷完全排除。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈，其阻抗變大的情況有（）
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé)，對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定，需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí)，X光室應(yīng)予以配合。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí)：Ⅰ級(jí)為初級(jí)，Ⅱ級(jí)為中級(jí)，Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有（）。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。