A.試塊比較
B.試塊計(jì)算
C.AVG曲線(xiàn)
D.以上都可以
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A.聲程標(biāo)定法
B.水平標(biāo)定法
C.深度標(biāo)定法
D.以上都是
A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度小于3N的工件
D.以上都是
A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度大于3N的工件
D.以上都是
A.根據(jù)入射角度不同,試件中可同時(shí)產(chǎn)生縱波和橫波
B.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生純橫波
C.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生表面波
D.以上都正確
A.掃查方式
B.掃查速度
C.掃查間距
D.以上都是
最新試題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
儀器水平線(xiàn)性影響()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
單探頭法容易檢出()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。