A.單晶直探頭反射法
B.透射法
C.雙晶直探頭反射法
D.以上都是
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A.可以精確調(diào)節(jié)或改變聲束角度
B.便于實現(xiàn)聚焦聲束檢測
C.便于實現(xiàn)快速或自動檢測
D.以上都是
A.由粗糙表面引起的聲能損失較小
B.表面盲區(qū)較小
C.人為因素影響較小
D.以上都是
A.經(jīng)工件返回的聲能損失較大
B.不適用于檢測形狀復(fù)雜的零件
C.不易保持穩(wěn)定的耦合
D.以上都是
A.操作簡便，適用于局部或現(xiàn)場檢測
B.聲能損失較少，可以提供較大的穿透能力
C.相同條件下，可提供更高的檢測靈敏度
D.以上都是
A.檢測大厚度零件，選擇較低的頻率是為了減少表面散射損耗
B.檢測小厚度零件，選擇較高的頻率是為了提高分辨力
C.檢測晶粒粗大零件，選擇較低的頻率是為了提高小缺陷檢測能力
D.以上都正確
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。