單項(xiàng)選擇題底片黑度正常而襯度不夠的原因可能是（）。
A、射線太硬
B、顯影不足
C、顯影液陳舊失效
D、以上都對
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1.單項(xiàng)選擇題放射性同位素源的半衰期取決于（）。
A、源的強(qiáng)度
B、源的尺寸
C、源的使用時(shí)間
D、源的種類
2.單項(xiàng)選擇題（）指的是同位素。
A、質(zhì)量數(shù)相同，中子數(shù)不同的元素
B、質(zhì)量數(shù)不同，中子數(shù)相同的元素
C、質(zhì)子數(shù)相同，中子數(shù)不同的元素
D、中子數(shù)相同，質(zhì)子數(shù)不同的元素
3.單項(xiàng)選擇題放射性同位素鈷60是將其穩(wěn)定的同位素鈷59至于核反應(yīng)堆中俘獲（）而發(fā)生核反應(yīng)制成的。
A、電子
B、中子
C、質(zhì)子
D、原子
4.單項(xiàng)選擇題以相同條件透照某工件，若焦距縮短20%，要達(dá)到同樣的黑度的底片，曝光時(shí)間可以減少（）。
A、64%
B、36%
C、20%
D、80%
5.單項(xiàng)選擇題溴化鉀是（）的一種。
A、抑制劑
B、顯影劑
C、加速劑
D、保護(hù)劑
最新試題
渦流檢測中的對比試樣的（）和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
題型：單項(xiàng)選擇題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）
題型：單項(xiàng)選擇題
對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
題型：單項(xiàng)選擇題
鑄件超聲檢測的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應(yīng)的可檢缺陷尺寸（）
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的（）
題型：單項(xiàng)選擇題
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型：單項(xiàng)選擇題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
題型：單項(xiàng)選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型：單項(xiàng)選擇題
直接射向缺陷的波就是（）
題型：單項(xiàng)選擇題
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為（）mm，峰值波長為365mm。
題型：單項(xiàng)選擇題