填空題在超聲波檢測(cè)中能力分辨出距探測(cè)面最近的缺陷回波的能力稱為（）。
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2.單項(xiàng)選擇題超聲波檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（）
A.較低頻率探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都是
3.單項(xiàng)選擇題鍛件中粗大晶粒通常會(huì)引起（）
A.底反射降低或消失
B.較高的“雜波”或噪聲顯示
C.穿透力降低
D.以上都是
4.單項(xiàng)選擇題在檢驗(yàn)工件時(shí)若無缺陷顯示，則操作者應(yīng)注意底面回波，若底面回波的高度劇烈下降，引起這種情況的原因可能是（）
A.大而平的缺陷與入射聲束取向不良
B.疏松
C.晶粒粗大
D.以上都是
5.單項(xiàng)選擇題在接觸法超聲波縱波垂直入射探傷中，出現(xiàn)底波幅度降低甚至消失的原因可能是（）
A.耦合不良
B.存在與聲束不垂直的缺陷
C.存在被始波遮蔽的近表面缺陷
D.以上都是
最新試題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題