A.壓電應(yīng)變常數(shù)
B.壓電電壓常數(shù)
C.介電常數(shù)
D.機(jī)械品質(zhì)因子
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A.壓電應(yīng)變常數(shù)
B.壓電電壓常數(shù)
C.介電常數(shù)
D.機(jī)械品質(zhì)因子
A.避免在靠近強(qiáng)磁場、有強(qiáng)烈振動(dòng)的場合使用儀器
B.儀器工作時(shí)防止雨、雪、水、機(jī)油進(jìn)入儀器內(nèi)部
C.放電后的蓄電池應(yīng)及時(shí)充電
D.氣候潮濕地區(qū)或季節(jié)，長期不用應(yīng)定期開機(jī)，開機(jī)時(shí)間約10min
A.掃描電路
B.接收電路
C.同步電路
D.發(fā)射電路
A.超聲檢測儀通過產(chǎn)生電振蕩并加于超聲波探頭上，激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)發(fā)射超聲波
B.超聲檢測儀可將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大，通過一定形式顯示出來
C.超聲檢測儀可以得到被探測工件表面及內(nèi)部有無缺陷及缺陷位置和大小
D.超聲檢測儀是超聲檢測的主體設(shè)備
A.用來描述距離、波幅和缺陷當(dāng)量之間的關(guān)系曲線
B.實(shí)用AVG曲線可以理論計(jì)算得到或者由通用AVG曲線得到
C.實(shí)用AVG曲線只適用于特定探頭
D.實(shí)用AVG曲線中要注明探頭的尺寸和頻率
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
儀器水平線性影響（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低，（）。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。