超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。

縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。

超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。

探頭延檢測面水平移動(dòng)，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。