單項(xiàng)選擇題儀器垂直線性好壞會(huì)影響();

A.缺陷當(dāng)量比較
B.AVG曲線面板使用
C.缺陷定位
D.以上都對(duì)


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1.單項(xiàng)選擇題儀器水平線性的好壞直接影響()。

A.缺陷性質(zhì)判斷
B.缺陷大小判斷
C.缺陷精確定位
D.以上都對(duì)

2.單項(xiàng)選擇題線聚焦探頭的聲透鏡形狀為()

A.球面
B.平面
C.柱面
D.以上都可以

3.單項(xiàng)選擇題以下哪一條不屬于雙晶探頭的主要參數(shù)?()

A.近場(chǎng)長(zhǎng)度
B.頻率
C.晶片尺寸
D.聲束交區(qū)范圍

4.單項(xiàng)選擇題雙晶直探頭的最主要用途是()。

A.探測(cè)近表面缺陷
B.精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度
C.精確測(cè)定缺陷高度
D.用于表面缺陷檢測(cè)

5.單項(xiàng)選擇題下面關(guān)于橫波斜探頭的說(shuō)法哪一條是錯(cuò)誤的?()

A.橫波斜探頭是由直探頭和透聲斜楔組成的
B.斜楔前面開(kāi)槽的目的是減少反射雜波
C.斜楔中的縱波聲速應(yīng)大于工件中的縱波聲速
D.橫波是在斜楔與工件交界面產(chǎn)生的

最新試題

()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

儀器水平線性影響()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

直接接觸法是指探頭與工件之間()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題