A.其聲速與被檢工件基本一致
B.材料中沒(méi)有超過(guò)φ2mm平底孔的缺陷
C.材料衰減不大且均勻
D.以上都是
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A.缺陷當(dāng)量比較
B.AVG曲線面板使用
C.缺陷定位
D.以上都對(duì)
A.缺陷性質(zhì)判斷
B.缺陷大小判斷
C.缺陷精確定位
D.以上都對(duì)
A.球面
B.平面
C.柱面
D.以上都可以
A.近場(chǎng)長(zhǎng)度
B.頻率
C.晶片尺寸
D.聲束交區(qū)范圍
A.探測(cè)近表面缺陷
B.精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度
C.精確測(cè)定缺陷高度
D.用于表面缺陷檢測(cè)
最新試題
儀器水平線性影響（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。