A、相同
B、不相同
C、可能相同
D、可能不相同
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A、一
B、二
C、三
D、四
A、三
B、四
C、五
D、六
A、不可避免
B、可以避免
C、不允許發(fā)生
D、不允許存在
A、不可避免
B、可以避免
C、不允許發(fā)生
D、不允許存在
A、磁方位角
B、坐標(biāo)方位角
C、真方位角
D、假定方位角
A、直線測(cè)設(shè)
B、直線定線
C、直線測(cè)定
D、直線定向
最新試題
精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑,則說明光學(xué)部件有()現(xiàn)象。
若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線定義方法,那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用()的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。
全站儀觀測(cè)水平角,下列不符合全站儀主要技術(shù)指標(biāo)規(guī)定的是()。
水平角觀測(cè)誤差超限時(shí),下列行為不符合規(guī)范規(guī)定的是()。
精密經(jīng)緯儀的主軸線有視準(zhǔn)軸、()、數(shù)軸和光學(xué)(激光)對(duì)中器視軸等。
利用偽距作空間交會(huì)來定位點(diǎn)位的方法稱為()
RTK測(cè)量的基本工作流程中,在至少()個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)(即點(diǎn)校正)。
絕對(duì)定位定位精度為()。
下列誤差中,()是水準(zhǔn)測(cè)量的主要儀器誤差。
偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和()