A.檢漏靈敏度與容器本底壓力有關(guān)
B.檢漏靈敏度與真空計(jì)的靈敏度有關(guān)
C.檢漏靈敏度與容器的容積大小無(wú)關(guān)
D.容器本底壓力低、檢測(cè)時(shí)間長(zhǎng),檢漏靈敏度就高
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.增加保壓時(shí)間,可以提高漏率測(cè)試靈敏度
B.要考慮環(huán)境溫度變化引起的水蒸氣變化
C.采用高靈敏度的天平直接稱重測(cè)量被檢件的有效容積產(chǎn)生的測(cè)試偏差要比標(biāo)準(zhǔn)容積膨脹法大
D.采用逐點(diǎn)質(zhì)量分析法,采用最小二乘法數(shù)據(jù)分析,可以減少分析偏差
A.傳感器系數(shù)大
B.對(duì)稱性好
C.耐壓特性好
D.響應(yīng)速度快
A.15%
B.17%
C.27%
D.37%
A.標(biāo)準(zhǔn)漏孔可以分為滲透型和通道型標(biāo)準(zhǔn)漏孔兩大類
B.標(biāo)準(zhǔn)漏孔一般由氣室、漏孔元件、漏氣閥、充氣閥和連接件構(gòu)成
C.滲透型標(biāo)準(zhǔn)漏孔的漏率與滲透元件的表面積、壁厚、濃度差成正比,而與滲透系數(shù)成反比
D.物理標(biāo)準(zhǔn)漏孔又稱通道型標(biāo)準(zhǔn)漏孔,物理漏孔對(duì)所有氣體成分都能通過(guò)
A.噴吹法的最大優(yōu)點(diǎn)在于可以準(zhǔn)確的找到漏孔位置
B.氦罩法只能測(cè)出所罩部位的總漏率,不能確定漏孔位置
C.經(jīng)背壓法細(xì)檢的產(chǎn)品必需采用氣泡法等粗檢手段進(jìn)行復(fù)驗(yàn)
D.真空室累積檢漏法能檢測(cè)被檢部位的總漏率和漏孔位置
最新試題
磁化方法按磁化方向分類,可分為哪幾類?能檢測(cè)哪些方向的缺陷?
無(wú)損檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)之一在于能不損害被檢件的使用性能而確定被檢件的質(zhì)量。
裝配時(shí)預(yù)緊力、扭矩過(guò)大或在使用中過(guò)載,產(chǎn)生塑性變形而導(dǎo)致螺栓局部截面減小屬于螺栓螺母運(yùn)行缺陷中的哪種:()。
在平底孔、短橫孔等靈敏度試塊上進(jìn)行靈敏度調(diào)節(jié)的最終目的是為了實(shí)現(xiàn)缺陷的定量。
關(guān)于磁粉檢驗(yàn)的局限性的敘述,不正確的是()。
原材料和零部件磁粉檢驗(yàn)的磁化方法一般不推薦使用()。
按照ASME 規(guī)范要求可以用來(lái)作為目視檢驗(yàn)靈敏度試樣的是:()。
哪種磁化方法最難退磁()?
橫孔試塊不能測(cè)定探頭雙峰。
照度計(jì)是用來(lái)測(cè)量工作場(chǎng)所光照度的基本儀器,不可以用來(lái)測(cè)量:()。