A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
D.以上都不適用
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.水基類
B.甘油類
C.硅基類
D.堿性類
A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
D.以上都不適用
A.根據(jù)探測范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以一次底回波設(shè)定
B.根據(jù)探測范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以兩次以上底
C.可以按被檢材料聲速設(shè)定,而不需要使用試塊
D.以上都可以
A.可以利用被檢件底面回波調(diào)整時(shí)基線;
B.利用兩次或兩次以上回波作為基準(zhǔn)回波;
C.調(diào)整時(shí),應(yīng)同時(shí)校正零位;
D.以上都是。
A.已知厚度的大平底零件
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.對比試塊
D.以上都可以
最新試題
()可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
單探頭法容易檢出()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。