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A.根據(jù)探測范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊，以一次底回波設(shè)定
B.根據(jù)探測范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊，以兩次以上底
C.可以按被檢材料聲速設(shè)定，而不需要使用試塊
D.以上都可以

A.可以利用被檢件底面回波調(diào)整時基線；
B.利用兩次或兩次以上回波作為基準(zhǔn)回波；
C.調(diào)整時，應(yīng)同時校正零位；
D.以上都是。