用根軌跡法進行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進行設(shè)計，所以，在校正裝置設(shè)計之后，需要進行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點對系統(tǒng)動態(tài)性能的影響。正因為降階處理的粗略性，設(shè)計初確定主導(dǎo)極點位置時需要留出（）。

對于典型二階系統(tǒng)，當系統(tǒng)為欠阻尼時，其階躍響應(yīng)呈現(xiàn)（）。

滯后校正的轉(zhuǎn)折頻率選得距截止頻率越遠，滯后校正裝置本身在處造成的相角滯后就（）。然而，距越遠，容易造成“（）”現(xiàn)象。

二次振蕩環(huán)節(jié)中包含（）個獨立儲能元件。

控制系統(tǒng)的頻域指標包括（）。

采用串聯(lián)超前校正時，通?？墒剐Ｕ笙到y(tǒng)的增益剪切頻率ωc（）。

采用相位超前校正將使系統(tǒng)的增益剪切頻率（）。（選填增大或減?。?/p>

系統(tǒng)局部反饋通路中接入的校正裝置稱為（）校正裝置。

系統(tǒng)中引入相位超前校正裝置后，系統(tǒng)的（）。

采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對作用于系統(tǒng)的擾動沒有補償作用。（）