A.是CELL和POL之間的異物,不良周圍無其他痕跡,灰度均一,以大小非常明顯的點(diǎn)狀、線形發(fā)生
B.POL的內(nèi)部/外部表面被劃傷,因此不良的周圍無其他傷疤,為大小分明的線狀不良
C.上POL偏移外觀可見,下POL偏移外觀不可見,當(dāng)偏移嚴(yán)重時導(dǎo)致邊角處POL沒有覆蓋,現(xiàn)象為邊角發(fā)白漏光
D.L0Pattern 可見局部發(fā)黑且無固定形態(tài)不可擦拭的污漬
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A.是CELL和POL之間的異物,不良周圍無其他痕跡,灰度均一,以大小非常明顯的點(diǎn)狀、線形發(fā)生
B.POL的內(nèi)部/外部表面被劃傷,因此不良的周圍無其他傷疤,為大小分明的線狀不良
C.上POL偏移外觀可見,下POL偏移外觀不可見,當(dāng)偏移嚴(yán)重時導(dǎo)致邊角處POL沒有覆蓋,現(xiàn)象為邊角發(fā)白漏光
D.L0Pattern 可見局部發(fā)黑且無固定形態(tài)不可擦拭的污漬
A.COF折損可能為FI人員插拔線導(dǎo)致
B.COF折痕不發(fā)白不影響點(diǎn)燈及OK
C.所有型號COF都是通用的
D.OLB設(shè)備可能造成COF破損
A.PCB B/D異物是指在TCP B/D過程中異物掉落造成
B.線性PCB B/D異物不用卡長度
C.UV膠可以涂覆到CFPOL上
D.造成PCB本壓不良原因可能為隔熱瓦掉落導(dǎo)致緩沖材破損后產(chǎn)生PCB本壓不良
A.POL異物
B.X line
C.異常點(diǎn)燈
D.ACF 貼附不良
A.ND膜是用來區(qū)分異物大小的
B.ND膜主要分為2%,3%,5%,8%四類
C.ND膜不可以用來判定線不良
D.ND膜可以用來判定POL異物位于哪一側(cè)
最新試題
下列哪項不是TFT-LCD相關(guān)性能指標(biāo)()
從一個畫面切換到另外一個畫面或者Power off時還留有原來畫面的圖像,該不良稱為()
JIG在Module 工序中正確的使用方法是()。
Back Light的中文名稱是:()。
Final Test L0畫面主要檢測()。
以下哪個不是模組常有的危險源()
關(guān)于BLU&Panel投入中說法錯誤的是?()
Flicker的現(xiàn)象,就是當(dāng)你看液晶顯示器的畫面上時,畫面會有()的感覺
R.G.B三基色共同組成一個()
以下是描述DGS現(xiàn)象的是()。