用根軌跡法進行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進行設計，所以，在校正裝置設計之后，需要進行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點對系統(tǒng)動態(tài)性能的影響。正因為降階處理的粗略性，設計初確定主導極點位置時需要留出（）。

關于控制系統(tǒng)的數(shù)學模型，下列說法錯誤的是：（）

在原點附近增加一對開環(huán)偶極子，根軌跡的走向和特征根的位置（），所以基本上不改變系統(tǒng)的（）特性，其作用主要是改變系統(tǒng)的（），提高系統(tǒng)的靜態(tài)精度。

用根軌跡法設計系統(tǒng)的校正裝置，首先由給定的（）確定主導極點的位置：然后通過設置校正裝置的（）使根軌跡通過主導極點的預期位置；最后，計算預期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置（），通過增加（）滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。

閉環(huán)極點的積等于開環(huán)極點的積。（）

對于典型二階系統(tǒng)，當系統(tǒng)為欠阻尼時，其階躍響應呈現(xiàn)（）。

在負反饋系統(tǒng)中，若開環(huán)傳遞函數(shù)增加了一個位于s左半平面的極點，則其根軌跡（）。

在頻率法校正中，串聯(lián)滯后校正的實質(zhì)是利用校正裝置的（）。

采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對作用于系統(tǒng)的擾動沒有補償作用。（）

PID控制器的特點包括（）。