圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1:2聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度200),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應是以下哪種情況()
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
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圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應是以下哪種情況()
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R25圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R25圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應是以下哪種情況?()
A.25、100
B.25、50、100
C.25、50、75、100
D.以上都可能
圖是測試橫波探頭不同折射角對應探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷C探頭位置測試的折射角是利用以下哪個面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
最新試題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關(guān)。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
單探頭法容易檢出()。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。