圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R25圓弧面時(shí)的示意圖。此時(shí)，各反射波之間的間距應(yīng)是多少（）
A.25
B.50
C.75
D.100
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R25圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1：1聲程調(diào)整的話（入射點(diǎn)對(duì)‘0’，滿刻度100），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況？（）
A.25、100
B.25、50、100
C.25、50、75、100
D.以上都可能
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷C探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷B探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷A探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭示意圖，根據(jù)圖示判斷是以下哪個(gè)測(cè)試項(xiàng)目（）
A.折射角
B.入射點(diǎn)
C.入射角
D.探頭前沿
最新試題
儀器水平線性影響（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
單探頭法容易檢出（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。