縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應將探傷靈敏度適當降低。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

底波高度法經常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。