A.試件厚度
B.試件密度
C.材料原子序數(shù)
D.材料楊氏模量
E.材料體積
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A.射源至膠片距離增大時(shí),射線強(qiáng)度按指數(shù)衰減律減小
B.射線能量與射源至膠片距離的平方根成反比
C.射線強(qiáng)度與射源至膠片距離的平方成反比
D.射源至膠片距離增大時(shí),散射線效應(yīng)與增大
A.X 射線變壓器
B.X 射線管
C.屏蔽
D.射線檢測(cè)器
E.熒光檢測(cè)棋
A.射線照相對(duì)比度
B.主因?qū)Ρ榷?br/>C.膠片對(duì)比度
D.清晰度
E.不透明度
A.電子直線加速器
B.Co 的同位素(Co-60是其中之一)
C.核反應(yīng)堆
D.電子回旋加速器
E.I 的放射性同位素
A.Co-60
B.220KV X 射線管
C.15MeV 電子回旋加速器
D.Ir-192的電子
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最新試題
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。
按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。