你可能感興趣的試題

單項(xiàng)選擇題
（）是指設(shè)備存在過(guò)熱，有一定溫差，溫度場(chǎng)有一定梯度，但不會(huì)引起事故的缺陷。
A.一般缺陷
B.嚴(yán)重缺陷
C.重大缺陷
D.危急缺陷
多項(xiàng)選擇題
根據(jù)過(guò)熱缺陷對(duì)電氣設(shè)備運(yùn)行的影響程度將缺陷分為以下哪幾類(lèi)（）。
A.一般缺陷
B.嚴(yán)重缺陷
C.重大缺陷
D.危急缺陷
單項(xiàng)選擇題
對(duì)于磁場(chǎng)和漏磁引起的過(guò)熱可根據(jù)（）設(shè)備的判據(jù)進(jìn)行處理。
A.電流致熱型
B.電磁效應(yīng)
C.電壓致熱型
D.綜合致熱型
單項(xiàng)選擇題
紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）在一段時(shí)間內(nèi)使用紅外熱像儀連續(xù)檢測(cè)某被測(cè)設(shè)備，觀(guān)察設(shè)備溫度隨負(fù)載、時(shí)間等因素變化的方法。
A.表面溫度判斷法
B.相對(duì)溫度判斷法
C.檔案分析判斷法
D.實(shí)時(shí)分析判斷法
單項(xiàng)選擇題
紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）分析同一設(shè)備不同時(shí)期的溫度場(chǎng)分布，找出設(shè)備致熱參數(shù)的變化，判斷設(shè)備是否正常。
A.表面溫度判斷法
B.相對(duì)溫度判斷法
C.檔案分析判斷法
D.實(shí)時(shí)分析判斷法
單項(xiàng)選擇題
紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）主要適用于電流致熱型設(shè)備。特別是對(duì)小負(fù)荷電流致熱型設(shè)備，采用該法可降低小負(fù)荷缺陷的漏判率。對(duì)電流致熱型設(shè)備，發(fā)熱點(diǎn)溫升值小于15K時(shí)，不宜采用該法。
A.表面溫度判斷法
B.同類(lèi)比較判斷法
C.圖像特征判斷法
D.相對(duì)溫差判斷法
單項(xiàng)選擇題
紅外測(cè)溫適用于電壓致熱型設(shè)備的判斷方法是（）。
A.表面溫度判斷法
B.圖像特征判斷法
C.相對(duì)溫差判斷法
D.檔案分析判斷法
單項(xiàng)選擇題
紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）主要適用于電壓致熱型設(shè)備。根據(jù)同類(lèi)設(shè)備的正常狀態(tài)和異常狀態(tài)的熱像圖，判斷設(shè)備是否正常。
A.表面溫度判斷法
B.圖像特征判斷法
C.相對(duì)溫度判斷法
D.檔案分析判斷法
單項(xiàng)選擇題
紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）是根據(jù)同組三相設(shè)備、同相設(shè)備之間及同類(lèi)設(shè)備之間對(duì)應(yīng)部位的溫差進(jìn)行比較分析。
A.表面溫度判斷法
B.同類(lèi)比較判斷法
C.相對(duì)溫度判斷法
D.檔案分析判斷法
單項(xiàng)選擇題
紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）主要適用于電流致熱型和電磁效應(yīng)引起發(fā)熱的設(shè)備。根據(jù)測(cè)得的設(shè)備表面溫度值，對(duì)照GB/T11022中相關(guān)規(guī)定，結(jié)合環(huán)境氣候條件、負(fù)荷大學(xué)進(jìn)行分析判斷。
A.表面溫度判斷法
B.圖像特征判斷法
C.相對(duì)溫度判斷法
D.檔案分析判斷法

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（）是指設(shè)備存在過(guò)熱，程度較重，溫度場(chǎng)分布梯度較大，溫差較大的缺陷。

你可能感興趣的試題

（）是指設(shè)備存在過(guò)熱，有一定溫差，溫度場(chǎng)有一定梯度，但不會(huì)引起事故的缺陷。

根據(jù)過(guò)熱缺陷對(duì)電氣設(shè)備運(yùn)行的影響程度將缺陷分為以下哪幾類(lèi)（）。

對(duì)于磁場(chǎng)和漏磁引起的過(guò)熱可根據(jù)（）設(shè)備的判據(jù)進(jìn)行處理。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）在一段時(shí)間內(nèi)使用紅外熱像儀連續(xù)檢測(cè)某被測(cè)設(shè)備，觀(guān)察設(shè)備溫度隨負(fù)載、時(shí)間等因素變化的方法。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）分析同一設(shè)備不同時(shí)期的溫度場(chǎng)分布，找出設(shè)備致熱參數(shù)的變化，判斷設(shè)備是否正常。

紅外測(cè)溫適用于電壓致熱型設(shè)備的判斷方法是（）。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）主要適用于電壓致熱型設(shè)備。根據(jù)同類(lèi)設(shè)備的正常狀態(tài)和異常狀態(tài)的熱像圖，判斷設(shè)備是否正常。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）是根據(jù)同組三相設(shè)備、同相設(shè)備之間及同類(lèi)設(shè)備之間對(duì)應(yīng)部位的溫差進(jìn)行比較分析。

（）是指設(shè)備存在過(guò)熱，程度較重，溫度場(chǎng)分布梯度較大，溫差較大的缺陷。

你可能感興趣的試題

（）是指設(shè)備存在過(guò)熱，有一定溫差，溫度場(chǎng)有一定梯度，但不會(huì)引起事故的缺陷。

根據(jù)過(guò)熱缺陷對(duì)電氣設(shè)備運(yùn)行的影響程度將缺陷分為以下哪幾類(lèi)（）。

對(duì)于磁場(chǎng)和漏磁引起的過(guò)熱可根據(jù)（）設(shè)備的判據(jù)進(jìn)行處理。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）在一段時(shí)間內(nèi)使用紅外熱像儀連續(xù)檢測(cè)某被測(cè)設(shè)備，觀(guān)察設(shè)備溫度隨負(fù)載、時(shí)間等因素變化的方法。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）分析同一設(shè)備不同時(shí)期的溫度場(chǎng)分布，找出設(shè)備致熱參數(shù)的變化，判斷設(shè)備是否正常。

紅外測(cè)溫適用于電壓致熱型設(shè)備的判斷方法是（）。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）主要適用于電壓致熱型設(shè)備。根據(jù)同類(lèi)設(shè)備的正常狀態(tài)和異常狀態(tài)的熱像圖，判斷設(shè)備是否正常。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）是根據(jù)同組三相設(shè)備、同相設(shè)備之間及同類(lèi)設(shè)備之間對(duì)應(yīng)部位的溫差進(jìn)行比較分析。

（）是指設(shè)備存在過(guò)熱，程度較重，溫度場(chǎng)分布梯度較大，溫差較大的缺陷。

（）是指設(shè)備存在過(guò)熱，有一定溫差，溫度場(chǎng)有一定梯度，但不會(huì)引起事故的缺陷。

對(duì)于磁場(chǎng)和漏磁引起的過(guò)熱可根據(jù)（）設(shè)備的判據(jù)進(jìn)行處理。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）在一段時(shí)間內(nèi)使用紅外熱像儀連續(xù)檢測(cè)某被測(cè)設(shè)備，觀(guān)察設(shè)備溫度隨負(fù)載、時(shí)間等因素變化的方法。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）分析同一設(shè)備不同時(shí)期的溫度場(chǎng)分布，找出設(shè)備致熱參數(shù)的變化，判斷設(shè)備是否正常。

紅外測(cè)溫適用于電壓致熱型設(shè)備的判斷方法是（）。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）主要適用于電壓致熱型設(shè)備。根據(jù)同類(lèi)設(shè)備的正常狀態(tài)和異常狀態(tài)的熱像圖，判斷設(shè)備是否正常。

紅外熱像檢測(cè)判斷方法中，（）是根據(jù)同組三相設(shè)備、同相設(shè)備之間及同類(lèi)設(shè)備之間對(duì)應(yīng)部位的溫差進(jìn)行比較分析。